Optical Measuring Systems
- Type: Lecture (V)
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Chair:
KIT-Fakultäten - KIT-Fakultät für Maschinenbau - Institut für Automation und angewandte Informatik
KIT-Fakultäten - KIT-Fakultät für Maschinenbau - Semester: SS 2024
-
Time:
Thu 2024-04-18
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-04-25
09:45 - 11:15, once
Thu 2024-05-02
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-05-16
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-06-06
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-06-13
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-06-20
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-06-27
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-07-04
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-07-11
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-07-18
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
Thu 2024-07-25
09:45 - 11:15, weekly
11.40 Seminarraum 202
11.40 Kollegiengebäude am Ehrenhof (2. OG)
- Lecturer: apl. Prof. Dr. Ingo Sieber
- SWS: 2
- Lv-No.: 2106010
- Information: On-Site
Links
Content | The lecture gives an introduction to optical measuring systems and optical metrology. Optical metrology offers the advantages of non-contact and fast measurement and is therefore also suitable for direct measurements during the process. The measuring systems are described on the basis of the underlying physical principles and their practical application is demonstrated using specific examples. Content:
Learning objectives: The students…
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Language of instruction | German |
Bibliography |
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